电信号测试系统
功率器件（SiC/MOSFET）动态参数专用测试，属于功率可靠性测试，覆盖开关延迟、开关损耗等动态参数测量。
本系统高速时序控制固件、瞬态波形采集逻辑、损耗计算算法由内部团队独立开发，脉冲时序序列可自定义编辑。
具体型号、指标与报价请与我们联系，工程师将根据您的被测对象与测试项目提供选型建议与方案。
产品咨询电话：199 1447 8851
捕获功率器件开通、关断瞬态波形，提取延迟时间、上升下降时间、开关损耗等关键动态参数，评估器件开关性能。
SiC MOSFET、Si MOSFET、IGBT 等功率半导体器件。
注：本页为产品系列介绍，完整指标、规格文档请联系我方工程师获取。
